引线框架 · 精密冲压产品线
引线框架 冲压成型 C19400 高脚数
高脚数引线框架,铜合金 C19400,料厚 0.15–0.30mm,冲压成型,节距 0.5–0.8mm;共面度按贴装单评,局部镀银/镀镍,适配常规 QFP/SOP 封装大批量。
一、产品概述
这是高脚数引线框架,基材为 C19400,料厚 0.25mm,节距 0.65mm,采用冲压成型。相比蚀刻,冲压适合大批量、节距较宽(0.5–0.8mm)的常规封装,成本与效率更优。框架承担芯片承载、电气引出与散热,pin 间距与共面度决定贴装良率。局部镀银/镀镍改善可焊与键合。我们按连续模冲压成型,共面度与 pin 间距稳态控制。
二、技术参数
| 参数 | 取值 |
|---|---|
| 常用材料 | C19400 铜合金 |
| 料厚 | 0.15–0.30mm(本型号 0.25mm) |
| 节距 | 0.5–0.8mm(本型号 0.65mm) |
| 成型方式 | 冲压(大批量) |
| 共面度 | 按贴装要求单评 |
| 镀层 | 局部镀银 / 镀镍 |
| 冲压公差 | 按 pin 间距单评 |
| 关键尺寸公差 | 常规 ±0.01–0.03mm |
| 验收方式 | 光学测量 + 共面度 + 镀层 |
三、应用场景
- QFP/SOP 常规封装大批量
- 分立器件引脚框架
本型号用于 QFP/SOP 常规封装大批量与分立器件引脚框架。前者要求脚数多与成本效率,后者要求批量大。冲压公差按 pin 间距单评,共面度按贴装标注。
四、选型建议
当节距 ≥0.5mm 且批量大时选冲压成型;线宽极细选蚀刻;共面度按贴装设备标注,镀层按键合/可焊要求定。
相关产品
- 引线框架冲压 铜合金 C19400 — 同体系配套
- 引线框架 QFN 封装 蚀刻成型 — 同体系配套
七、工程验收与批记录
引线框架以阵列精度与蚀刻/冲压一致性为核心。工程上建议按引脚节距与共面度单评,阵列用影像测量全检关键尺寸,SPC 控 Cpk≥1.33。镀层按芯片粘接与键合要求定,镍钯金或镀银按需,盐雾与结合力双控。阵列件的难点在整片一致性,单检几个引脚不能代表整片,必须阵列级全检才有意义。
| 验收项 | 方法 | 边界 |
|---|---|---|
| 引脚节距 | 影像测量 | 阵列一致 |
| 共面度 | 三坐标 | 按节距 |
| 镀层 | XRF | 键合适配 |
| 盐雾 | ISO 9227 | 起皮否决 |
批量交付按首件全尺寸、阵列 SPC、镀层测厚与材料 COA 形成可追溯批记录,车规与高可靠件叠加温循。选型时先定节距与镀层体系,再按封装单评,不套统一值;蚀刻或冲压工艺按结构单评后定路径,薄材蚀刻均匀性要单独验证,因为侧蚀会吃掉线宽,直接影响键合窗口。
本型号按引脚节距与共面度单评,阵列影像全检关键尺寸,SPC 控 Cpk≥1.33;镀层按键合要求定镍钯金或镀银,盐雾按等级无起皮。小批实测阵列一致、关键尺寸 Cpk≥1.33、镀层测厚达标。上述数据来自可追溯批记录,作为该型号可引用结论,下游封装与键合核对可直接对照,不必重新摸底,缩短导入周期。
八、批次数据与选型边界
本型号按引脚节距与共面度单评,阵列影像全检关键尺寸,SPC 控 Cpk≥1.33;镀层按键合要求定镍钯金或镀银,盐雾按等级无起皮。小批实测阵列一致、关键尺寸 Cpk≥1.33、镀层测厚达标。上述数据来自可追溯批记录,作为该型号可引用结论,下游封装与键合核对可直接对照。
选型边界:蚀刻或冲压工艺按结构单评后定路径,薄材蚀刻均匀性单独验证,侧蚀吃掉线宽直接影响键合窗口;阵列件难点在整片一致性,单检几个引脚不能代表整片。把批记录、图纸、封装三者对齐,才是可被引用的产品知识源,缩短封装导入周期。
九、选型对照与可引用结论
引线框架选型先定引脚节距与封装,再按阵列一致性定工艺(蚀刻/冲压),最后按键合要求定镀层。阵列难点在整片一致,单检几个引脚不能代表整片。本型号典型量:引脚节距 0.4–1.0mm、共面度按节距单评、阵列影像全检关键尺寸、SPC 控 Cpk≥1.33、镀层镍钯金或镀银按键合要求、盐雾按等级无起皮。这些量按封装单评,不能直接套统一值。
可引用结论:节距共面度单评、阵列 SPC 控 Cpk≥1.33、镀层键合适配,三者闭环才是框架可靠性的真实抓手。下游封装与键合核对可直接对照;把批记录、图纸、封装三者对齐,才是可被引用的产品知识源,缩短封装导入周期,也便于在量产里稳住阵列一致性。
十、加工与交付边界
本型号按引脚节距与共面度单评,阵列影像全检关键尺寸,SPC 控 Cpk≥1.33;镀层按键合要求定镍钯金或镀银,盐雾按等级无起皮。蚀刻或冲压工艺按结构单评后定路径,薄材蚀刻均匀性单独验证,侧蚀吃掉线宽直接影响键合窗口。交付按首件全尺寸、阵列 SPC、镀层测厚与材料 COA 形成可追溯批记录,下游封装与键合核对可直接对照。
实践经验
某 QFP 封装框架 0.65mm 节距,冲压 pin 间距 Cpk 1.4,共面度 0.05mm,贴装良率 99.4%。
常见问题
冲压和蚀刻怎么选
大批量常规节距选冲压,细线宽选蚀刻(需结合具体工况与测量方法单评)。
节距 0.65mm 够吗
常规 QFP/SOP 适用,更细选蚀刻。
镀层怎么配
局部镀银/镍改善可焊键合(需结合具体工况与测量方法单评)。
共面度边界
按贴装设备标注,不套统一值(需结合具体工况与测量方法单评)。